tuttoNuova macchina di ricerca

Apparecchiature per campionamento elettroscopicoLEICA EM TXP è uno strumento di lavorazione superficiale* che consente di individuare con precisione l'area di destinazioneSEM，TEMeLMtaglio del campione prima dell'osservazione,Trattamento di serie come lucidatura. È particolarmente adatto per la preparazione di campioni ad alta difficoltà, come la necessità di localizzare con precisione un obiettivo o di punteggiare obiettivi minuscoli difficili da osservare a occhio nudo. Ci sono.Leica EM TXPQuesti lavori possono essere realizzati facilmente.

inLeica EM TXPIn precedenza, il taglio puntuale, la macinazione o la lucidatura dell'area di destinazione era spesso un lavoro impegnativo e difficile, poiché l'area di destinazione era estremamente vulnerabile alla perdita.Oppure difficile da gestire a causa delle dimensioni obiettivo troppo piccole. utilizzareLeicaEM TXPQuesti campioni possono essere facilmente gestiti.

Grazie alle sue caratteristiche multifunzionali,Leica EM TXPÈ anche uno strumento di pre-campionamento efficace* per la tecnologia di macinazione a fascio ionico e la tecnologia di taglio ultrasottile.

Apparecchiature per campionamento elettroscopico

Integrazione con il sistema di osservazione

Osserva l'intero processo di trattamento del campione e l'area di destinazione sotto il microscopio, fissa il campione sul braccio del campione e visualizza il campione in tempo reale tramite un microscopio stereoscopico durante il trattamento del campioneGuarda, guarda da un angolo0°fino a60°regolabile o modificabile-30°È possibile misurare la distanza tramite gli occhiali.Leica EMTXPCon anelli luminosi.LEDL'illuminazione, perSi ottiene un effetto di osservazione visiva*.

>Posizionamento preciso e preparazione dei campioni per piccole aree di destinazione

>Osservazione in situ tramite microscopio stereoscopico

>Manipolazione meccanica multifunzione

>Controllo automatizzato del processo di elaborazione dei campioni

>Ottiene un effetto di lucidatura simile a uno specchio

> LEDluminosità regolabile della sorgente di luce circolare,4Sezione di separazione opzionale

Nato per campionamento su microscala

Posizionare, tagliare, macinare e lucidare piccoli obiettivi su scala millimetrica e micrometrica è un compito impegnativo e le principali difficoltà derivano da:

>L'obiettivo è troppo piccolo per essere osservato.

>Posizionamento preciso dell'obiettivo o calibrazione angolare dell'obiettivo sono difficili

>La macinazione e la lucidatura fino alla posizione di destinazione richiedono spesso molto lavoro e tempo.

>I piccoli obiettivi sono facilmente persi.

>Le dimensioni dei campioni sono piccole, difficili da gestire e spesso devono essere imballati

Sistema integrato di microosservazione e imaging

della Leica M80Microscopio stereoscopico

>Progettazione del percorso ottico parallelo: percorso ottico parallelo attraverso l'obiettivo principale centrale, piano focale coerente

>Risoluzione moltiplicata: qualità dell'immagine e intensità luminosa stabile per tutte le variabili

>Ergonomia: comfort di utilizzo*, senza tensione muscolare e stanchezza

Leica IC80 HDFotocamera HD

>Progetto perfetto: installato tra la testa ottica e gli occhiali senza l'aggiunta di tubi grafici o fototubi

>Immagini di alta qualità: un percorso coassiale con il microscopio garantisce la qualità dell'immagine e ottiene immagini senza riflessi

>Fornisce immagini HD dinamiche, collegate o disconnesse il computer

4 Segzione di luminosità regolabileLEDFonte di luce circolare

>Illuminazione angolare diversa rivela piccoli dettagli del campione

Leica Application Suite (LAS)Software di misurazione e analisi delle immagini)*

>Immagine digitale

>Elaborazione e analisi delle immagini

Preparazione dei campioni in diversi modi

I campioni non devono essere trasferiti, basta cambiare strumento

Non è necessario trasferire i campioni avanti e indietro, è sufficiente sostituire semplicemente gli strumenti per il trattamento del campione per completare il processo di trattamento del campione e l'intero processo di trattamento del campione può essere osservato in tempo reale al microscopio. Per motivi di sicurezza, lo studio in cui si trovano gli utensili e i campioni è dotato di un cappuccio di sicurezza trasparente per evitare che l'operatore tocchi accidentalmente i componenti operativi durante la lavorazione del campione e per evitare gli spruzzi di detriti.

LEICA EM TXPI campioni possono essere trattati come segue:

>fresatura

>Taglio

>macinatura

>lucidatura

>perforazione

Processo di campionamento

attrezzature di campionamento elettroscopico?Esempi di applicazione

（1- Sì.PCBTrattamento della sezione del foro in piastra

（2- Sì.ICTrattamento di lucidatura di taglio a punto fisso dei punti di saldatura del filo d'oro medio

（3Il campione di particelle non è imballato, incollato sul tavolo del campione per il campionamento

（4Cappuccio a noci nell'orologio

（5piccoli difetti sul dispositivo cromato