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DSP-STC2258 Tester multifunzione digitale a quattro punti della sonda
Il tester digitale multifunzione a quattro sonde DSP-STC2258 è uno strumento di misura completo multiuso che utilizza il principio di misura a quattro
Dettagli del prodotto
proprietà meccaniche
DSP-STC2258 tester digitale multifunzione a quattro sonde
1panoramica
Il tester digitale multifunzione a quattro sonde DSP-STC2258 è uno strumento di misura completo multiuso che utilizza il principio di misura a quattro sonde per testare resistività / resistenza quadrata. Lo strumento è progettato in conformità con GB/T 1551-2009 "Metodo per la misurazione della resistenza elettrica dei cristalli singoli di silicio", GB/T 1551-1995 "Metodo a due sonde DC per la misurazione della resistenza elettrica dei cristalli singoli di silicio e germanio", GB/T 1552-1995 "Metodo a quattro sonde DC per la misurazione della resistenza elettrica dei cristalli singoli di silicio e germanio", e fa riferimento allo standard americano A.S.T.M.
Il set completo di strumenti è costituito da un host, una sonda opzionale a quattro sonde, un banco di prova e altre parti.
L'host è composto principalmente da una sorgente di corrente costante di precisione, un ADC ad alta risoluzione e un sistema di microcontrollore incorporato. Tutte le impostazioni dei parametri e le conversioni delle funzioni dello strumento vengono inserite utilizzando una tastiera digitale; Ha la posizione zero e funzioni di autocalibrazione di grado pieno; Campo di conversione automatica della tensione e della corrente; I risultati del test vengono visualizzati direttamente nell'intestazione numerica. Questo tester è appositamente dotato di una funzione di classificazione dei risultati della prova, con 10 categorie principali.
Selezione della sonda: a seconda delle caratteristiche dei diversi materiali, sono disponibili diverse opzioni per la sonda. Ci sono sonde ad alta resistenza all'usura del carburo di tungsteno per testare la resistività / resistenza quadrata di materiali duri come semiconduttori a base di silicio, metalli, plastica conduttiva, ecc; Ci sono anche sonde sferiche in lega di rame placcato oro che possono misurare la resistività / resistività di materiali semiconduttori come film sottili conduttivi, rivestimenti metallici o film sottili, film conduttivi (film ITO) o rivestimenti nano su substrati quali materiali flessibili, ceramica o vetro. Sostituendo il dispositivo di prova a quattro terminali, è anche possibile misurare la resistenza del corpo della resistenza, la resistenza bassa e mediana del conduttore metallico e la resistenza di contatto degli interruttori. Dotato di una sonda dedicata, può anche testare la resistenza quadrata di resistività dei rivestimenti su elettrodi della batteria e altri fogli.
Selezione del banco di prova: Il banco di prova tipo SZT-A, SZT-B, SZT-C o SZT-F è comunemente usato per la prova di resistività/resistenza quadrata utilizzando il metodo a quattro sonde. Il banco di prova tipo SZT-K o il banco di prova tipo SZT-D può essere selezionato per testare la resistività delle polveri semiconduttori utilizzando il metodo a due sonde e il banco di prova tipo SZT-G può essere selezionato per testare la resistività dei materiali di gomma. Si prega di fare riferimento alla "Caratteristiche e riferimento di selezione di quattro strumenti sonde, sonde e banchi di prova" per i dettagli
Lo strumento ha le caratteristiche di alta precisione di misura, alta sensibilità, buona stabilità, alta intelligenza, struttura compatta e facile uso.
Lo strumento è adatto per testare la conducibilità di conduttori, semiconduttori e materiali simili a semiconduttori in fabbriche di materiali semiconduttori, istituti di ricerca e università.
Il set completo di strumenti è costituito da un host, una sonda opzionale a quattro sonde, un banco di prova e altre parti.
L'host è composto principalmente da una sorgente di corrente costante di precisione, un ADC ad alta risoluzione e un sistema di microcontrollore incorporato. Tutte le impostazioni dei parametri e le conversioni delle funzioni dello strumento vengono inserite utilizzando una tastiera digitale; Ha la posizione zero e funzioni di autocalibrazione di grado pieno; Campo di conversione automatica della tensione e della corrente; I risultati del test vengono visualizzati direttamente nell'intestazione numerica. Questo tester è appositamente dotato di una funzione di classificazione dei risultati della prova, con 10 categorie principali.
Selezione della sonda: a seconda delle caratteristiche dei diversi materiali, sono disponibili diverse opzioni per la sonda. Ci sono sonde ad alta resistenza all'usura del carburo di tungsteno per testare la resistività / resistenza quadrata di materiali duri come semiconduttori a base di silicio, metalli, plastica conduttiva, ecc; Ci sono anche sonde sferiche in lega di rame placcato oro che possono misurare la resistività / resistività di materiali semiconduttori come film sottili conduttivi, rivestimenti metallici o film sottili, film conduttivi (film ITO) o rivestimenti nano su substrati quali materiali flessibili, ceramica o vetro. Sostituendo il dispositivo di prova a quattro terminali, è anche possibile misurare la resistenza del corpo della resistenza, la resistenza bassa e mediana del conduttore metallico e la resistenza di contatto degli interruttori. Dotato di una sonda dedicata, può anche testare la resistenza quadrata di resistività dei rivestimenti su elettrodi della batteria e altri fogli.
Selezione del banco di prova: Il banco di prova tipo SZT-A, SZT-B, SZT-C o SZT-F è comunemente usato per la prova di resistività/resistenza quadrata utilizzando il metodo a quattro sonde. Il banco di prova tipo SZT-K o il banco di prova tipo SZT-D può essere selezionato per testare la resistività delle polveri semiconduttori utilizzando il metodo a due sonde e il banco di prova tipo SZT-G può essere selezionato per testare la resistività dei materiali di gomma. Si prega di fare riferimento alla "Caratteristiche e riferimento di selezione di quattro strumenti sonde, sonde e banchi di prova" per i dettagli
Lo strumento ha le caratteristiche di alta precisione di misura, alta sensibilità, buona stabilità, alta intelligenza, struttura compatta e facile uso.
Lo strumento è adatto per testare la conducibilità di conduttori, semiconduttori e materiali simili a semiconduttori in fabbriche di materiali semiconduttori, istituti di ricerca e università.
2,Parametri tecnici di base
1. Campo di misura e risoluzione (indicato tra parentesi come espandibile di un ordine di grandezza)
Resistenza: 10,0 × 10-6～ 200.0×103 Ω, risoluzione 1,0 × 10-6～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω, risoluzione 0,1 × 10-6 ～ 0.01×103Ω）
Resistività elettrica: 10,0 × 10-6～ 200.0×103Ω - risoluzione cm 1,0 × 10-6～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω - risoluzione cm 0,1 × 10-6～ 0.01×103Ω-cm)
Resistenza del blocco: 50,0 × 10-6～ 1.0×106Ω/□ risoluzione 5,0 × 10-6～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□ risoluzione 0,5 × 10-6～ 0.1×103 Ω/□）
2. dimensione del materiale (determinata dalla piattaforma di prova facoltativa e dal metodo di prova)
Diametro: banco di prova rotondo SZT-A, metodo di prova diretto con un diametro di 15~130mm, modalità portatile non limitata
Metodo di prova diretto 180mm × 180mm del banco di prova quadrato SZT-B/C/F, la modalità portatile non è limitata
Lunghezza (altezza): Il metodo di prova diretto del banco di prova è H ≤ 100mm e il metodo portatile non è limitato
Direzione di misura: sono disponibili sia direzioni assiali che radiali
3. Intervallo di divisione e livello di errore
Resistenza: 10,0 × 10-6～ 200.0×103 Ω, risoluzione 1,0 × 10-6～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω, risoluzione 0,1 × 10-6 ～ 0.01×103Ω）
Resistività elettrica: 10,0 × 10-6～ 200.0×103Ω - risoluzione cm 1,0 × 10-6～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6～ 20.00×103 Ω - risoluzione cm 0,1 × 10-6～ 0.01×103Ω-cm)
Resistenza del blocco: 50,0 × 10-6～ 1.0×106Ω/□ risoluzione 5,0 × 10-6～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6～ 100.0×103Ω/□ risoluzione 0,5 × 10-6～ 0.1×103 Ω/□）
2. dimensione del materiale (determinata dalla piattaforma di prova facoltativa e dal metodo di prova)
Diametro: banco di prova rotondo SZT-A, metodo di prova diretto con un diametro di 15~130mm, modalità portatile non limitata
Metodo di prova diretto 180mm × 180mm del banco di prova quadrato SZT-B/C/F, la modalità portatile non è limitata
Lunghezza (altezza): Il metodo di prova diretto del banco di prova è H ≤ 100mm e il metodo portatile non è limitato
Direzione di misura: sono disponibili sia direzioni assiali che radiali
3. Intervallo di divisione e livello di errore
| Visualizzazione completa |
200.0
|
20.00
|
2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
| Gamma convenzionale |
kΩ-cm/□
|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
---
|
||||
| * Ampia gamma di espansione |
---
|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
||||
| Errore di base |
±2%FSB
±4LSB
|
±1,5%FSB
±4LSB
|
±0,5%FSB±2LSB |
±0,5%FSB
±4LSB
|
±1,0%FSB
±4LSB
|
||||
3. alimentazione elettrica di lavoro: 220V ± 10%, f=50Hz ± 4%, PW≤5W
4. Dimensioni: 245mm (lunghezza) x 220mm (larghezza) x 95mm (altezza)
Peso netto: ≤ 1,5-2,0kg
4. Dimensioni: 245mm (lunghezza) x 220mm (larghezza) x 95mm (altezza)
Peso netto: ≤ 1,5-2,0kg
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