Nome del prodotto:Microscopio a particelle conduttive
Modello del prodotto: PZ-JTM-5040H
Pricipalmente utilizzato nell'industria optoelettronica come LCD, PDP, PCB, ecc., fornendo l'attrezzatura di prova necessaria per la loro ricerca e sviluppo e produzione. Ha le funzioni di osservare la distribuzione di particelle legate a pressione OLB, oggetti estranei attaccati alla superficie del pannello di cristallo liquido, graffi sul pannello di cristallo liquido, misurazione della dimensione e della quantità di particelle conduttive, ecc

Caratteristiche del prodotto:

Microscopio a particelle conduttiveSi tratta di uno strumento di misura ad alta precisione e ad alta efficienza che combina funzioni di imaging e visive. Ha due serie di sistemi di mira per l'imaging televisivo e l'ottica visiva ed è un microscopio metallografico di misura che integra ottica, meccanica, elettronica, informatica e imaging. Questo strumento è ampiamente usato in componenti elettronici, stampi di precisione, utensili da taglio di precisione, plastica, elaborazione PCB e altri campi. Può essere utilizzato non solo per la misura di coordinate, ma anche per la misurazione microscopica di confronto dell'ingrandimento utilizzando un reticolo standard oculare. Può misurare il passo, il diametro esterno, l'angolo del dente e altre dimensioni del pezzo in lavorazione o contorni esterni dei fili, nonché osservare la forma e i difetti delle particelle conduttive ACF. Oltre ad essere utilizzato per la misura di lunghezza e angolo, può anche essere utilizzato come microscopio di osservazione. È una delle apparecchiature di misura e di prova indispensabili nelle industrie meccaniche, elettroniche, strumenti, orologi, industria leggera e plastica, nonché nelle sale di misura, laboratori e laboratori di produzione di università, istituti di ricerca e dipartimenti di verifica metrologica.

1. rispetta i principi ergonomici di progettazione per l'operazione e la misurazione facili

2. operazione pneumatica di movimento rapido con una mano di un clic sul banco di lavoro

3. Può raggiungere la messa a fuoco automatica dell'asse Z

4. Ha polarizzazione e funzioni di rilevamento DIC

5. adottare dispositivi passivi di assorbimento degli urti per migliorare l'accuratezza e la stabilità dell'intera macchina

6. software sviluppato indipendentemente QMS3D-M, ad alta definizione importato 1/2 'macchina fotografica a colori

7. La posizione specifica del pezzo misurato può essere trovata attraverso un puntatore laser, che può adattarsi alla misura di pezzi complessi

8. Può raggiungere la misura assistita di altezza

9. La risoluzione del righello della griglia dell'asse Z è di 0,1 μ m

10. Misura coassiale/luce inferiore

11. può essere accoppiato con un modulo di rilevazione nano della luce bianca per misurare lo spessore del nanoscale

Parametri specifici: